商品描述： 工作原理 ：    WKL-702 颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统，由光学显微镜、数字 CCD 摄像机和颗粒图像处理...

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商品描述： 工作原理 WKL-722粉尘形貌分散度测试仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行粉尘分散度分析和粒度测量的粉尘分析系统，由光学显微镜、数字CCD摄像机和粉尘分散度处理分析软件组成。...

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商品描述：     采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。     颗粒测试...

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商品描述： 工作原理：    采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。    颗粒测试的数据...

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商品描述： 工作原理：      采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。  颗粒测试的数...

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商品描述： 工作原理：      采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。   &nb...

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商品描述： 采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。     颗粒测试的数据计算一般分为无约束...

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商品描述： 激光粒度仪采用全量程米氏散射理论。 1、测量范围：0.05~800微米 2、准确性误差：〈±1%（国家标准物质D50）      重复性偏差：〈±1%（国家标准物质D50）     &nb...

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商品描述： 分析仪采用全量程米氏散射理论。 1、测量范围：0.02~1200微米 2、准确性误差：〈±1%（国家标准物质D50）        重复性偏差：〈±1%（国家标准物质D50）    ...

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商品描述： 采用全量程米氏散射理论 1、测量范围：0.1~600微米 2、准确性误差：〈±1%（国家标准物质D50）       重复性偏差：〈±1%（国家标准物质D50）      &n...

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